AS ONE FIB Sample Table for Sample Preparation (Fine Grid), FIB 시료조정용 시료대 (미세 그리드)
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TEM 분석용 FIB 시료 박편화 과정에 사용하는 시료대. 3개의 시료 고정부와 인식용 핀홀 및 원형 패턴 포함. 고순도 소재로 제작되어 정밀한 시료 준비에 적합.
브랜드: AS ONE
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제품 특징
- TEM 관찰 및 분석용으로 FIB 가공기에서 시료를 박편화할 때 사용하는 시료대입니다.
- 얇아진 시료 고정부가 3곳에 마련되어 있습니다.
- 고순도 소재를 사용하여 오염을 최소화합니다.
- 시료 고정부 인식용 핀홀과 표리 인식용 원형 패턴이 포함되어 있습니다.
제품 사양
| 항목 | 내용 |
|---|---|
| 베이스부 직경 | 약 3 mm |
| 두께 | 시료 고정부 선단: 약 5 μm 시료 고정부: 약 10 μm 베이스부: 약 30 μm |
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