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1 / 2AS ONE FIB Sample Table for Sample Preparation (Fine Grid), FIB 시료조정용 시료대 (미세 그리드)
상품 한눈에 보기
TEM 분석용 FIB 시료 박편화 과정에 사용하는 시료대. 3개의 시료 고정부와 인식용 핀홀 및 원형 패턴 포함. 고순도 소재로 제작되어 정밀한 시료 준비에 적합.
- 카탈로그번호
- 4-5168-0x (4개 옵션)
- 브랜드
- AS ONE
- 카테고리
- Other Organics
- 판매단위
- pk
카탈로그
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4-5168-04 SG-003Ti, 재질 : 티타늄 / 입수 : 1상자 (20매) pk판매 단위 pk ·
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4-5168-03 SG-003Cu, 재질 : 동 / 입수 : 1상자 (30매) pk판매 단위 pk ·
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AS ONE · AS ONE FIB Sample Table for Sample Preparation (Fine Grid), FIB 시료조정용 시료대 (미세 그리드)
제품 특징
- TEM 관찰 및 분석용으로 FIB 가공기에서 시료를 박편화할 때 사용하는 시료대입니다.
- 얇아진 시료 고정부가 3곳에 마련되어 있습니다.
- 고순도 소재를 사용하여 오염을 최소화합니다.
- 시료 고정부 인식용 핀홀과 표리 인식용 원형 패턴이 포함되어 있습니다.
제품 사양
| 항목 | 내용 |
|---|---|
| 베이스부 직경 | 약 3 mm |
| 두께 | 시료 고정부 선단: 약 5 μm 시료 고정부: 약 10 μm 베이스부: 약 30 μm |
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