AS ONE FIB Sample Table for Sample Preparation (Fine Grid), FIB 시료조정용 시료대 (미세 그리드)
상품 옵션 정보 | ||||||||
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카탈로그 번호 | CAS 번호 | 설명 | 상태 | 단위 | 판매가 | 할인가 | 가격(VAT포함) | 수량 / 장바구니 / 찜 |
4-5168-04 | - | 4-5168-04 SG-003Ti, 재질 : 티타늄 / 입수 : 1상자 (20매) pk | 재고문의 | pk | 829,000원 | - | 911,900원 | |
4-5168-01 | - | 4-5168-01 SG-002Mo, 재질 : 몰리브덴 / 입수 : 1상자 (25매) pk | 재고문의 | pk | 814,000원 | - | 895,400원 | |
4-5168-02 | - | 4-5168-02 SG-003Ni, 재질 : 니켈 / 입수 : 1상자 (30매) pk | 재고문의 | pk | 800,000원 | - | 880,000원 | |
4-5168-03 | - | 4-5168-03 SG-003Cu, 재질 : 동 / 입수 : 1상자 (30매) pk | 재고문의 | pk | 400,000원 | - | 440,000원 |
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[특징]
● TEM에서의 관찰·분석용으로 FIB 가공기에서 시료를 박편화할 때 사용되는 시료대입니다.
● 얇아진 시료 고정부가 3군데 있습니다.
● 고순도 소재를 사용하고 있습니다.
● 시료 고정부 인식용 핀홀, 표리 인식용 원형 패턴이 있습니다.
[사양]
● 베이스부 직경: 약 3mm
● 두께 : 시료 고정부 선단 / 약 5μm · 시료 고정부 / 약 10μm · 베이스부 / 약 30μm
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