AS ONE FIB Sample Table for Sample Preparation (Fine Grid), FIB 시료조정용 시료대 (미세 그리드)
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[특징]
● TEM에서의 관찰·분석용으로 FIB 가공기에서 시료를 박편화할 때 사용되는 시료대입니다.
● 얇아진 시료 고정부가 3군데 있습니다.
● 고순도 소재를 사용하고 있습니다.
● 시료 고정부 인식용 핀홀, 표리 인식용 원형 패턴이 있습니다.
[사양]
● 베이스부 직경: 약 3mm
● 두께 : 시료 고정부 선단 / 약 5μm · 시료 고정부 / 약 10μm · 베이스부 / 약 30μm
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