OpticsHub cafe24_angma88_1_75967은 어떤 제품인가요?
캐시바이 AI
OpticsHub의 [Thorlabs] Dual Scanning Slit Beam Profiler는 500 - 1700 nm 파장 범위와 Ø2.5 µm - Ø9 mm 측정 범위를 갖춘 Imperial 규격의 빔 프로파일러입니다. 제품 사양을 표로 정리해 드리면 다음과 같습니다.
주요 사양
| 제품명 | [Thorlabs] Dual Scanning Slit Beam Profiler, 500 - 1700 nm, Ø2.5 µm - Ø9 mm, Imperial |
|---|---|
| 브랜드 | OpticsHub |
| 파트넘버 | cafe24_angma88_1_75967 |
이 제품은 Dual Scanning Slit 방식의 Beam Profiler로, 광학 빔의 프로파일을 측정하는 데 사용됩니다. 500 - 1700 nm 범위의 광원과 Ø2.5 µm - Ø9 mm 크기의 빔 측정에 적합합니다.
사용 목적에 맞는 파장 범위, 빔 크기 측정 범위, Imperial 규격 여부를 확인해 선택하시기 바랍니다. 상세 구성과 적용 조건은 문의로 확인하실 수 있습니다.
재고·납기는 문의로 확인 가능하며 견적서 발행이 가능합니다.
담당자가 채팅으로 답변드립니다 · 견적서 발행 가능