OpticsHub cafe24_angma88_1_75965 [Thorlabs] Dual Scanning Slit Beam Profiler는 어떤 제품인가요?
캐시바이 AI
[Thorlabs] Dual Scanning Slit Beam Profiler는 200 - 1100 nm 파장 범위와 Ø2.5 µm - Ø9 mm 빔 크기 범위를 지원하는 Imperial 사양의 빔 프로파일러입니다. 제품 사양을 표로 정리해 드리면 다음과 같습니다.
주요 사양
| 제품명 | [Thorlabs] Dual Scanning Slit Beam Profiler, 200 - 1100 nm, Ø2.5 µm - Ø9 mm, Imperial |
|---|---|
| 브랜드 | OpticsHub |
| 파트넘버 | cafe24_angma88_1_75965 |
이 제품은 Dual Scanning Slit 방식으로 광학 빔의 프로파일을 측정하는 데 사용되는 장비입니다. 200 - 1100 nm 범위의 광원과 Ø2.5 µm - Ø9 mm 범위의 빔 측정이 필요한 연구 및 광학 실험에 적합합니다.
선택 시 측정하려는 광원의 파장과 빔 크기가 제품의 지원 범위에 해당하는지 확인하시기 바랍니다. 세부 구성과 사용 환경 적합성은 문의로 확인할 수 있습니다.
재고·납기는 문의로 확인 가능하며, 견적서 발행이 가능합니다.
담당자가 채팅으로 답변드립니다 · 견적서 발행 가능