Lklab Korea Silicon Wafer/실리콘 웨이퍼

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4~12인치 실리콘 웨이퍼로 구성된 제품으로, P/N 타입 및 Prime/Test Grade 선택 가능. 고품질 Prime Grade는 반도체 제조용, Test Grade는 장비 테스트용에 적합. Thermal Oxidation SiO₂ 증착 옵션 제공으로 절연막 형성 가능. QL, SK실트론 제품.

브랜드: LK Labkorea

상품 옵션 정보

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소모품
W04-171-601
Lklab Korea W04-171-601 Silicon Wafer/4inch / P-type/<0.005 / Prime 25/PK
CAS: -단위: PK
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W04-171-604
Lklab Korea W04-171-604 Silicon Wafer/4inch / N-type/<0.005 / Prime 25/PK
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W04-171-607
Lklab Korea W04-171-607 Silicon Wafer/4inch / P-type/1~30 / Test 25/PK
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W04-171-610
Lklab Korea W04-171-610 Silicon Wafer/4inch / P-type/1~10 / Prime 25/PK
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W04-171-613
Lklab Korea W04-171-613 Silicon Wafer/4inch / N-type/1~10 / Prime 25/PK
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Lklab Korea W04-171-621 Silicon Wafer/6inch / P-type/<0.005 / Prime 25/PK
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Lklab Korea W04-171-624 Silicon Wafer/6inch / N-type/<0.005 / Prime 25/PK
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Lklab Korea W04-171-627 Silicon Wafer/6inch / P-type/0.01~0.02 / Prime 25/PK
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Lklab Korea W04-171-630 Silicon Wafer/6inch / N-type/0.01~0.02 / Prime 25/PK
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Lklab Korea W04-171-636 Silicon Wafer/6inch / N-type/1~10 / Prime 25/PK
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Lklab Korea W04-171-642 Silicon Wafer/6inch / N-type/1~30 / Test 25/PK
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Lklab Korea W04-171-654 Silicon Wafer/8inch / P-type/1~50 / Test 25/PK
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소모품
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Lklab Korea W04-171-654 Silicon Wafer/8inch / P-type/1~50 / Test 25/PK
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Lklab Korea W04-171-661 Silicon Wafer/12inch / P-type/1~50 / Test 25/PK
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Lklab Korea W04-171-707 Silicon Wafer, SiO2/4inch / P-type/3000Å / Prime 25/PK
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W04-171-724
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Lklab Korea W04-171-724 Silicon Wafer, SiO2/6inch / P-type/2000Å / Prime 25/PK
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W04-171-727
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Lklab Korea W04-171-727 Silicon Wafer, SiO2/6inch / P-type/3000Å / Prime 25/PK
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W04-171-730
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Lklab Korea W04-171-730 Silicon Wafer, SiO2/6inch / N-type/1000Å / Prime 25/PK
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W04-171-733
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Lklab Korea W04-171-733 Silicon Wafer, SiO2/6inch / N-type/2000Å / Prime 25/PK
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W04-171-736
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Lklab Korea W04-171-736 Silicon Wafer, SiO2/6inch / N-type/3000Å / Prime 25/PK
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W04-171-741
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Lklab Korea W04-171-741 Silicon Wafer, SiO2/8inch / P-type/<0.005 / 1000Å~2um / Prime 25/PK
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W04-171-744
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Lklab Korea W04-171-744 Silicon Wafer, SiO2/8inch / P-type/1~50 / 1000Å~2um / Test 25/PK
CAS: -단위: PK
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W04-171-751
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Lklab Korea W04-171-751 Silicon Wafer, SiO2/12inch / P-type/1~100 / 1000Å~2um / Test 25/PK
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Lklab Korea Silicon Wafer / 실리콘 웨이퍼

제품 개요

  • Dia(직경): 4인치 / 6인치 / 8인치 / 12인치
    (직경이 커질수록 두께 증가)
  • Dopant Type: P-type / N-type
  • Grade: Prime Grade / Test Grade
  • 제조사: QL, SK실트론

Dia 구분

  • 4인치 / 6인치 / 8인치 / 12인치
  • 12인치 이상이 현재 주류 (한 번에 더 많은 반도체 생산 가능)
  • Dia 크기에 따라 두께 증가

Dopant Type (불순물 도핑)

  • P-Type (Positive)
    • 3가 원소(B, Al, Ga) 도핑으로 전기적 특성 변화
    • 정공이 전하 운반자
  • N-Type (Negative)
    • 5가 원소(P, As, Sb) 도핑으로 전기적 특성 변화
    • 전자가 전하 운반자

저항 (Ω)

  • 불순물 도핑 양이 많을수록 저항 감소

Orientation

  • (100) 방향 절단
  • 결정 평면을 나타내며, 이온 주입 방향 선택에 사용

Grade 구분

  • Prime Grade
    • 고품질 광택 처리
    • Photolithography 및 Particle Monitor용
    • 정확한 저항률, 반도체 제조용 하이테크 공정에 사용
  • Test Grade
    • 대량 테스트용 또는 장비 검증용
    • 반도체 제조 라인 및 프로세스 제어 테스트에 사용
    • Prime Grade 대비 일부 규격 미달 가능

Thermal Oxidation (열산화)

  • 고온에서 실리콘 웨이퍼를 산화시켜 SiO₂ 절연막 형성
  • 장점
    • 계면 상태 우수
    • 박막 형성 용이
    • 물리적 성질 우수
  • Dry Type Thermal Oxidation 지원

제품 사양

Silicon Wafer / 실리콘 웨이퍼

Cat. No. Model Dia (inch) Type Thickness (µm) Resistivity (Ω·cm) Polishing Surface Orientation Grade
W04-171-601 SW4P005P 4 P 500–550 <0.005 Single Side 1-0-0 PRIME
W04-171-604 SW4N005P 4 N - - - - -
W04-171-607 SW4P300T 4 P - 1~30 - - TEST
W04-171-610 SW4P100P 4 P - 1~10 - - PRIME
W04-171-613 SW4N100P 4 N - - - - -
W04-171-621 SW6P005P 6 P 650–700 <0.005 - - -
W04-171-624 SW6N005P 6 N - - - - -
W04-171-627 SW6P015P 6 P - 0.01~0.02 - - -
W04-171-630 SW6N015P 6 N - - - - -
W04-171-633 SW6P100P 6 P - 1~10 - - -
W04-171-636 SW6N100P 6 N - - - - -
W04-171-639 SW6P300T 6 P - 1~30 - - TEST
W04-171-642 SW6N300T 6 N - - - - -
W04-171-651 SW8P005P 8 P 700–750 <0.005 - - PRIME
W04-171-654 SW8P500T 8 P - 1–50 - - TEST
W04-171-661 SW12P500TD 12 P - - Double Side - -

Silicon Wafer, SiO₂ / 산화막 증착 실리콘 웨이퍼

Cat. No. Model Dia (inch) Type Thickness (µm) Resistivity (Ω·cm) Polishing Surface Orientation Grade Thermal Oxidation
W04-171-701 SSW4P1000P 4 P 500–550 <0.005 Single Side 1-0-0 PRIME 1000Å (=100nm)
W04-171-704 SSW4P2000P 4 P - - - - - 2000Å (=100~200nm)
W04-171-707 SSW4P3000P 4 P - - - - - 3000Å (=200~300nm)
W04-171-710 SSW4N1000P 4 N - - - - - 1000Å (=100nm)
W04-171-713 SSW4N2000P 4 N - - - - - 2000Å (=100~200nm)
W04-171-716 SSW4N3000P 4 N - - - - - 3000Å (=200~300nm)
W04-171-721 SSW6N1000P 6 P 650–700 - - - - 1000Å (=100nm)
W04-171-724 SSW6N2000P 6 P - - - - - 2000Å (=100~200nm)
W04-171-727 SSW6N3000P 6 P - - - - - 3000Å (=200~300nm)
W04-171-730 SSW6N1000P 6 N - - - - - 1000Å (=100nm)
W04-171-733 SSW6N2000P 6 N - - - - - 2000Å (=100~200nm)
W04-171-736 SSW6N3000P 6 N - - - - - 3000Å (=200~300nm)
W04-171-741 SSW8N005P 8 P 700–750 - - - - 1000Å ~ 2µm
W04-171-744 SSW8N500T 8 P - 1–50 - - TEST -
W04-171-751 SSW12N1000TD 12 - 750–800 1–100 Double Side - - -

주문 안내

  • Silicon Wafer, SiO₂ 제품은 주문 시 Thermal Oxidation 범위 내에서 선택 가능

제품 이미지

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