Lklab Korea Silicon Wafer/실리콘 웨이퍼

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W04-171-604-Lklab Korea W04-171-604 Silicon Wafer/4inch / N-type/<0.005 / Prime 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-607-Lklab Korea W04-171-607 Silicon Wafer/4inch / P-type/1~30 / Test 25/PK재고문의PK0-0
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W04-171-613-Lklab Korea W04-171-613 Silicon Wafer/4inch / N-type/1~10 / Prime 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-621-Lklab Korea W04-171-621 Silicon Wafer/6inch / P-type/<0.005 / Prime 25/PK재고문의PK0-0
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W04-171-651-Lklab Korea W04-171-651 Silicon Wafer/8inch / P-type/<0.005 / Prime 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-654-Lklab Korea W04-171-654 Silicon Wafer/8inch / P-type/1~50 / Test 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-661-Lklab Korea W04-171-661 Silicon Wafer/12inch / P-type/1~50 / Test 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-701-Lklab Korea W04-171-701 Silicon Wafer, SiO2/4inch / P-type/1000Å / Prime 25/PK재고문의PK0-0
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W04-171-707-Lklab Korea W04-171-707 Silicon Wafer, SiO2/4inch / P-type/3000Å / Prime 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-710-Lklab Korea W04-171-710 Silicon Wafer, SiO2/4inch / N-type/1000Å / Prime 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-713-Lklab Korea W04-171-713 Silicon Wafer, SiO2/4inch / N-type/2000Å / Prime 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-716-Lklab Korea W04-171-716 Silicon Wafer, SiO2/4inch / N-type/3000Å / Prime 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-721-Lklab Korea W04-171-721 Silicon Wafer, SiO2/6inch / P-type/1000Å / Prime 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-724-Lklab Korea W04-171-724 Silicon Wafer, SiO2/6inch / P-type/2000Å / Prime 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-727-Lklab Korea W04-171-727 Silicon Wafer, SiO2/6inch / P-type/3000Å / Prime 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-730-Lklab Korea W04-171-730 Silicon Wafer, SiO2/6inch / N-type/1000Å / Prime 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-733-Lklab Korea W04-171-733 Silicon Wafer, SiO2/6inch / N-type/2000Å / Prime 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-736-Lklab Korea W04-171-736 Silicon Wafer, SiO2/6inch / N-type/3000Å / Prime 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-741-Lklab Korea W04-171-741 Silicon Wafer, SiO2/8inch / P-type/<0.005 / 1000Å~2um / Prime 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-744-Lklab Korea W04-171-744 Silicon Wafer, SiO2/8inch / P-type/1~50 / 1000Å~2um / Test 25/PK재고문의PK0-0
W04-171-751-Lklab Korea W04-171-751 Silicon Wafer, SiO2/12inch / P-type/1~100 / 1000Å~2um / Test 25/PK재고문의PK0-0

■ Dia는 4인치 / 6인치 / 8인치 / 12인치로 구분 (Dia 크기에 따라 두께 증가)
■ Dopant Type은 P-type, N-type으로 구분
■ Grade는 Prime Grade, Test Grade로 구분
■ QL, SK실트론

● Dia 구분
▶ 4인치 / 6인치 / 8인치 / 12인치
▶ 현재 대세는 12인치 이상 (한번에 더 많은 반도체 생산을 위해)
▶ Dia 크기에 따라 두께 증가 (하단 표 참조)

● Dopant(Impurity(불순물) Doping 으로 전기적 특성을 부여) Type 구분
▶ P(Positive)-Type
◆ 3가 원소(B, Al, Ga) Doping으로 특성을 변화시킴
◆ 원자가 전하 운반자임

▶ N(Negative)-Type
◆ 5가 원소(P, As, Sb) Doping으로 특성을 변화시킴
◆ 전자가 전하 운반자임

● 저항 (Ω)
▶ Impurity Doping 양이 증가하면 저항이 낮아짐

● Orientation : 1-0-0
▶ 절단으로 결정 평면을 나타냄
▶ 최근에는 절단 보다는 표시로 결정 평면을 나타냄
▶ 이온 주입 방향을 선택

● Grade
▶ Prime Grade
◆ 고품질 광택 처리
◆ Photolithography (Mask 상에 설계된 패턴을 웨이퍼 상에 구현하는 공정) 와 particle monitors 에 사용
◆ 일반적으로 더 정확한 저항률 값으로 하이테크 프로젝트 또는 반도체 제조에 사용됨

▶ Test Grade
◆ 대량의 웨이퍼가 필요한 장비 테스트 및 지속적인 사용되는 곳 등에 쓰임
◆ 반도체 제조 라인 및 프로세스 제어 테스트 및 관리에 사용
◆ Test Grade는 Prime Grade 에서 보통 1개 이상의 규격이 부족

● Thermal Oxidation
▶ 고온에서 Silicon Wafer 를 산화시켜 SiO2 절연막을 성장시키는 공정
▶ 장점 : 계면상태 양호, 박막형성 용이, 물리적성질 우수

● Dry Type Thermal Oxidation

● QL, SK실트론

  • Silicon Wafer / 실리콘 웨이퍼
Cat. No. Model Dia.
(inch)
Type Thickness
(um)
Resistivity
(ohm)
Polishing
Surface
Orientation Grade
W04-171-601 SW4P005P 4 P 500-550 <0.005 Single Side 1-0-0 PRIME
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W04-171-604 SW4N005P N
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W04-171-607 SW4P300T P 1~30 TEST
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W04-171-610 SW4P100P 1~10 PRIME
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W04-171-613 SW4N100P N
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W04-171-621 SW6P005P 6 P 650-700 <0.005
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W04-171-624 SW6N005P N
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W04-171-627 SW6P015P P 0.01~0.02
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W04-171-630 SW6N015P N
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W04-171-633 SW6P100P P 1~10
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W04-171-636 SW6N100P N
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W04-171-639 SW6P300T P 1~30 TEST
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W04-171-642 SW6N300T N
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W04-171-651 SW8P005P 8 P 700-750 <0.005 PRIME
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W04-171-654 SW8P500T 1-50 TEST
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W04-171-661 SW12P500TD 12 Double Side
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  • Silicon Wafer, SiO2 / 산화막 증착 실리콘 웨이퍼
Cat. No. Model Dia.
(inch)
Type Thickness
(um)
Resistivity
(ohm)
Polishing Surface Orientation Grade Thermal Oxidation
W04-171-701 SSW4P1000P 4 P 500-550 <0.005 Single Side 1-0-0 PRIME 1000A(=100nm)
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W04-171-704 SSW4P2000P 2000A(=100~200nm)
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W04-171-707 SSW4P3000P 3000A(=200~300nm)
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W04-171-710 SSW4N1000P N 1000A(=100nm)
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W04-171-713 SSW4N2000P 2000A(=100~200nm)
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W04-171-716 SSW4N3000P 3000A(=200~300nm)
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W04-171-721 SSW6N1000P 6 P 650-700 1000A(=100nm)
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W04-171-724 SSW6N2000P 2000A(=100~200nm)
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W04-171-727 SSW6N3000P 3000A(=200~300nm)
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W04-171-730 SSW6N1000P N 1000A(=100nm)
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W04-171-733 SSW6N2000P 2000A(=100~200nm)
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W04-171-736 SSW6N3000P 3000A(=200~300nm)
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W04-171-741 SSW8N005P 8 P 700-750 1000A ~ 2um
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W04-171-744 SSW8N500T 1-50 TEST
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W04-171-751 SSW12N1000TD 12 750-800 1-100 Double Side
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● Silicon Wafer, SiO2는 주문 시, Thermal Oxidation 범위 내에서 선택해야함


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