
AS ONE High-Purity Silicone Wafer forResearch, 연구용 고순도 실리콘웨이퍼
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CZ법으로 제조된 연구용 고순도 실리콘 웨이퍼. 면방위 100, OF위치 110으로 정밀도 우수. 저항값 0.1~100Ω·㎝ 범위, 고저항형 및 저저항형 모델 제공. 파티클 관리 우수해 클린룸 연구에 적합.
브랜드: AS ONE
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AS ONE 연구용 고순도 실리콘 웨이퍼 (High-Purity Silicone Wafer for Research)
제품 사양
| 항목 | 사양 |
|---|---|
| 제조 방법 | CZ법 |
| 면방위 | 100 |
| OF 위치 | 110 |
| 저항값 | 0.1~100 Ω·㎝ |
| 고저항형 (2-960-08, 2-960-62) | ≥ 500 Ω·㎝ |
| 저저항형 (2-960-07, 2-960-61) | ≤ 0.02 Ω·㎝ |
| 파티클 | 2-960-01~10: 파티클 불문 2-960-53~62: 0.3㎛·10개 이하 |
특징
- CZ법으로 제조된 고순도 실리콘 웨이퍼
- 정밀한 면방위(100)와 OF위치(110)
- 다양한 저항값 모델 제공
- 파티클 관리 기준 충족
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